Ein inspirierender Austausch zwischen Forschung und Technologieentwicklung fand im vergangenen Jahr bei nano analytik GmbH in Ilmenau statt.
Zu Gast war Prof. Kamal Youcef-Toumi vom Massachusetts Institute of Technology (MIT) – weltweit bekannt für seine Arbeiten im Bereich Präzisionsinstrumentierung und Nanotechnologien.
Gemeinsam mit Prof. Dr. Ivo W. Rangelow ist er Autor des Fachbuchs über aktive Cantilevers, eine Schlüsseltechnologie der modernen Rasterkraftmikroskopie (AFM).
Während seines Besuchs hielt Prof. Youcef-Toumi einen spannenden Vortrag über ultraschnelles AFM-Imaging, bei dem Bildaufnahmen mit Geschwindigkeiten von bis zu 1000 Zeilen pro Sekunde möglich sind. Besonders erfreulich: Die dafür verwendete aktive Cantilever-Technologie stammt von nano analytik GmbH – und hat ihre Leistungsfähigkeit eindrucksvoll bestätigt.
Auch ein Team der Wrocław University of Science and Technology war an diesem Tag zu Besuch und nahm mit großem Interesse an der Diskussion teil.
Dieser Austausch zeigt, welches Potenzial in der Verbindung von Grundlagenforschung, innovativer Messtechnik und internationaler Zusammenarbeit steckt. Wir sind gespannt, welche neuen Entwicklungen die aktive Cantilever-Technologie in Zukunft noch ermöglichen wird.